国際画像機器展2018

タイトル：「Deep Learningを用いた外観検査」

従来の検査課題を解決する期待技術「Deep Learning」に着目し、現状の外観検査の課題から実際の製造現場での適応のポイント、Deep Learningのメリット・適応に向けての注意点などをお話します。

株式会社シーイーシー　デジタルインダストリービジネスグループ
スマートファクトリー事業部 第一サービス部　久保田 進也

日時：2018年12月6日（木） 11:10～11:50
会場：パシフィコ横浜2F アネックスホールF204
参加費：5,000円／人
お申し込み：こちらからお申し込みください。

■ 出展コンセプト：『外観検査を「ディープラーニング」でもっと賢く』

検査工程は製品品質に関する最後の砦であり、その重要性はますます高まってきています。目視検査で困っている、目視検査を自動化したい、自動化での過剰検出など、ぜひ、お悩みをご相談ください。

Deep Learningによる高精度な自動検査を実現！「WiseImaging（ワイズイメージング）」